RapidXAFS具有如下特點:

最高光通量產品

光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質量

優(yōu)異的穩(wěn)定性

光源單色光強度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復采集能量漂移<50 meV

1%探測極限

高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質量EXAFS數(shù)據(jù)

儀器原理

X射線吸收精細結構(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

臺式XAFS主要有以下優(yōu)點：

1.不依賴于長程有序結構，可用于非晶態(tài)材料的研究；

2.不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；

3.對樣品無破壞，在大氣環(huán)境下測試，可進行原位測試；

4.不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等；

5.能獲得配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結構參數(shù)，原子間距精確度可達0.01A。