臺式XAFS是一種無需依賴同步輻射光源，即可在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)高精度X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測量的分析設(shè)備。它通過X射線單色器設(shè)計或羅蘭圓結(jié)構(gòu)，將X射線能量聚焦至特定范圍（通常為4.5-25 keV），結(jié)合透射或熒光檢測模式，獲取材料中特定元素的局域原子結(jié)構(gòu)、電子態(tài)及配位環(huán)境信息。

　　臺式XAFS的主要功能包括以下幾個方面：

　　1、材料結(jié)構(gòu)分析功能

　　局域原子結(jié)構(gòu)表征：能夠確定吸收原子周圍局部環(huán)境的配位數(shù)、鍵長、鍵角等結(jié)構(gòu)參數(shù)，提供原子尺度上的結(jié)構(gòu)信息，對于研究非晶材料、納米材料、催化劑等短程有序材料的微觀結(jié)構(gòu)具有重要意義。

　　化學(xué)價態(tài)識別：通過分析X射線吸收邊的能量位置和近邊結(jié)構(gòu)（XANES）特征，可以確定元素的化學(xué)價態(tài)，區(qū)分不同價態(tài)的同種元素，有助于深入理解材料的電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)。

　　2、化學(xué)狀態(tài)分析功能

　　配位環(huán)境分析：可揭示元素在材料中的配位情況，包括配位原子的種類、配位幾何構(gòu)型等，了解元素與周圍原子的成鍵方式和相互作用，為研究材料的化學(xué)反應(yīng)活性、催化性能等提供依據(jù)。

　　電子結(jié)構(gòu)研究：基于X射線吸收光譜的數(shù)據(jù)，能夠推導(dǎo)出物質(zhì)的態(tài)密度、電子云分布等電子結(jié)構(gòu)信息，有助于理解材料的導(dǎo)電性、磁性、光學(xué)性質(zhì)等物理性能與電子結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系。

　　3、動態(tài)過程監(jiān)測功能

　　原位反應(yīng)監(jiān)測：搭配定制的原位反應(yīng)池，可在實驗過程中實時監(jiān)測樣品在化學(xué)反應(yīng)、電化學(xué)反應(yīng)、熱處理等過程中的結(jié)構(gòu)和化學(xué)狀態(tài)變化，為研究反應(yīng)機(jī)理、動力學(xué)過程以及材料的動態(tài)性能提供直接的證據(jù)。

　　時間分辨研究：雖然臺式XAFS的時間分辨率相對同步輻射XAFS較低，但在一定程度上仍可用于研究一些較慢的動態(tài)過程，如電池充放電過程中電極材料的結(jié)構(gòu)和價態(tài)變化、催化劑在反應(yīng)過程中的結(jié)構(gòu)演變等。